ПЭМ-125К — высокоразрешающий просвечивающий электронный микроскоп для фундаментальных исследований. Позволяет исследовать микроструктуру и фазовый состав объектов в нанотехнологиях, материаловедении, кристаллографии, геологии, микроэлектронике, биологии, медицине и др. областях, наблюдать и фотографировать изображение объектов в широком диапазоне увеличений, получать дифракционные картины, исследовать объекты при их наклоне и вращении с помощью гониометрического устройства.

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Параметры	Тип полюсного наконечника
	БН	ВР	ВК
Разрешающая способность, nm по кристаллической решетке по точкам	0,2 0,37	0,14 0,35	0,34 0,45
Диапазон электронно-оптических увеличений, ×	50 ... 1000000 31 ступень	50 ... 1300000 31 ступень	50 ... 800000 31 ступень
Максимальный угол наклона объекта гониометром, °	±60	±15	±15
Ускоряющее напряжение, kV со ступенями регулировки, kV	25 ... 125 0,05; 1; 5
Длина дифракционной камеры, mm	100 ... 5000 11 ступеней	80 ... 3500 11 ступеней	120 … 6000 11 ступеней
Угол наклона электронного пучка на объекте, °	4
Напряжение питания (3 фазы), V частота, Hz	220 50/60
Потребляемая мощность, kVA, не более	5,5
Габаритные размеры, mm, не более	Колонна со стендом	Шкаф питания	Высоковольтный источник
• длина • ширина • высота	1220 2100 2000	610 400 840	430 610 900
Общая масса микроскопа, kg, не более	1700