Электронограф регистрирующий с компьютерным управлением ЭМР-110К предназначен для структурных исследований кристаллической структуры веществ методом дифракции электронов в кристаллографии, металловедении, геологии, химии и других областях науки и техники.

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Разрешающая способность Δd, nm при d=0,1 nm и L= 600 mm	0,0002
Дифракционный индекс (δ3/L)	(7÷8)×10-5
Ускоряющее напряжение, kV со ступенями регулировки, kV	25 … 100 0,05; 1; 5
Перемещение объекта • перемещение по XY, mm • вращение вокруг Z, ° • наклон вокруг оси Y, ° • количество объектов в держателе на просвет • количество объектов в держателе на отражение • размер тонкого объекта, Ø, mm • размер шлифа, mm	±10,0 360 ±45 7 1 6 10×10×3
Угол отклонения дифракционной картины отклоняющей системой развертки, °	±7
Нагрев держателя тонкого объекта, °С	до 900
Охлаждение держателя тонкого объекта, °С	-150
Фотокамера • размер фотопленки, mm • количество кассет в фотомагазине	90×120 20
Пределы измерения тока зонда цилиндром Фарадея, А	10-9 … 10-12
Длительность развертки дифракционной картины, s	10 — 180
Фильтр электронов для отсева атомного и некогерентного фона на дифракционной картине: • рабочие напряжения фильтра, кV • полоса пропускания фильтра, eV • шум фильтра, ррs, не более	25, 50, 75 0 … 10 700
Остаточное давление, mm Hg, не более • в объеме электронной пушки • в объеме дифракционной камеры • в объеме фильтра электронов	5×10-6 1×10-5 5×10-6
Напряжение питания (1 фаза), V частота, Hz	220 50/60
Потребляемая мощность, кVА, не более	4,0
Габаритные размеры, mm, не более	Колонна со стендом	Высоковольтный источник
• длина • ширина • высота	1350 1900 2000	830 400 750
Общая масса электронографа, kg, не более	1500